1. CMOS processors and memories
المؤلف:
المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)
موضوع: Metal oxide semiconductors, Complementary ; Design and construction. ; Random access memory. ; Semiconductor storage devices. ;
2. CMOS processors and memories
المؤلف: Krzysztof )Kris( Iniewski, editor
المکتبة: كتابخانه و مركز اسناد دانشگاه كردستان (کردستان)
موضوع: ، Metal oxide semiconductors, Complementary, Design and construction,، Random access memory,، Semiconductor storage devices
رده :
TK
7871
.
99
.
M44
C575
2010
3. #DRAM circuit design
المؤلف: #Brent Keeth, R. Jacob Baker
المکتبة: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی اصفهان (أصبهان)
موضوع: Semiconductor storage devices- Design and construction ،Random access memory
رده :
#
TK
،#.
M4
,
K425
4. DRAM circuit design :
المؤلف: Brent Keeth, R. Jacob Baker
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Random access memory,Semiconductor storage devices-- Design and construction
رده :
TK7895
.
M4
K425
2001
5. DRAM circuit design : a tutorial
المؤلف: Keeth, Brent, 0691-
المکتبة: (طهران)
موضوع: ، Semiconductor storage devices,، Random access memory
رده :
TK
7895
.
M4K44
6. Dynamic RAM
المؤلف: Muzaffer A. Siddiqi.
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Random access memory.,Semiconductor storage devices.
7. Fault-tolerance and reliability techniques for high-density random-access memories
المؤلف: Chakraborty, Kanad
المکتبة: (طهران)
موضوع: Reliability ، Random access memory,، Integrated circuits -- Fault tolerance,، Semiconductor storage devices
رده :
TK
7895
.
M4C44
8. Fault-tolerance and reliability techniques for high-density random-access memories
المؤلف: / Kanad Chakraborty , Pinaki Mazumder
المکتبة: مكتبات الكلية التقنية بجامعة طهران (طهران)
موضوع: Random access memory -- Reliability,Integrated circuits -- Fault tolerance,Semiconductor storage devices
رده :
TK
7895
.
M4C44
2002
9. Fault-tolerance and reliability techniques for high-density random-access memories
المؤلف: / Kanad Chakraborty, Pinaki Mazumder
المکتبة: مكتبات الكلية التقنية بجامعة طهران (طهران)
موضوع: Random access memory -- Reliability,Integrated circuits -- Fault tolerance,Semiconductor storage devices
رده :
TK
7895
.
M4C44
10. #MTDT 2004
المؤلف: #edited by R. Rajsuman and T. Wik , sponsored by IEEE Computer Society, IEEE Computer Society Test Technology Technical Council ... and others
المکتبة: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی اصفهان (أصبهان)
موضوع: Semiconductor storage devices- Testing- Congresses ،Random access memory- Congresses
رده :
#
TK
،#.
M4
,
I334
،#
2004
11. Memory module databook 1990/1991
المؤلف: OKI semiconductor
المکتبة: كتابخانه پژوهشگاه نیرو (طهران)
موضوع: Handbooks, manuals, etc. ، Semiconductor storage devices,Handbooks, manuals, etc. ، Random access memory
رده :
DB
TK
7895
.
M4O45
1990
12. Non- Volatile memories databook
المؤلف: SGS-Thomson microelectronics
المکتبة: كتابخانه پژوهشگاه نیرو (طهران)
موضوع: Handbooks, manuals, etc. ، Semiconductor storage devices,Handbooks, manuals, etc. ، Random access memory,Handbooks, manuals, etc. ، Integrated circuits
رده :
DB
TK
7895
.
M4S57
1990
13. Proceedings
المؤلف: / edited by F. Lombardi, R. Rajsuman, and T. Wik
المکتبة: المكتبة المركزيه لمدارس الزراعة والموارد الطبيعيه (ألبرز)
موضوع: Semiconductor storage devices -- Testing Congresses,Random access memory -- Congresses
رده :
TK
7895
.
M4
1997
14. Proceedings: International Workshop on Memory Technology, Design, and Testing
المؤلف: / edited by F. Lombardi, R. Rajsuman, and T. Wik; sponsored by IEEE Computer Society, IEEE Computer Society Technical Committee on Test Technology, IEEE Computer Society Technical Committee on VLSI; in cooperation with IEEE Solid State Circuits Council
المکتبة: المكتبة المركزية ومركز الأرشيف (طهران)
موضوع: Semiconductor storage devices,Random access memory,-- Testing Congresses,-- Congresses
رده :
621
.
39732
I11P
1997
15. Records of the ... IEEE International Workshop on Memory Technology, Design, and Testing
المؤلف:
المکتبة: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (طهران)
موضوع: ، Semiconductor storage devices-- Testing-- Congresses,، Random access memory-- Congresses
رده :
TK
7895
.
M4
.
I335
16. Records of the 2000 IEEE International Workshop on Memory Technology, Design and Testing, 7-8 August 2000, San Jose, California
المؤلف: edited by R. Rajsuman and T. Wik; sponsored by IEEE Computer Society, IEEE Computer Society Technical Council on Test Technology, IEEE Computer Society Technical Committee on VLSI; in cooperation with IEEE Solid State Circuits Society
المکتبة: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع: Testing -- Congresses ، Semiconductor storage devices,Congresses ، Random access memory
رده :
TK
7895
.
M4
I334
2000
17. Records of the IEEE International Workshop on Memory Technology, Design, and Testing, August 8-9, 1994, San Jose, California
المؤلف: IEEE International Workshop on Memory Technology, Design, and Testing )1994 : San Jose, Calif.(
المکتبة: (طهران)
موضوع: Semiconductor storage devices - Testing - Congresses , Random access memory - Congresses
رده :
TK
7895
.
M4
I334
1994
18. Records of the 1999 IEEE International Workshop on memory Technology, Design and Testing, August 9-10, 1999, San Jose, Calif., USA
المؤلف: edited by R. Rajsuman and T. Wik; sponsored by IEEE Computer Society, IEEE Computer Society Technical Committee on VLSI, IEEE Computer Society Technical Council on Test Technology; in cooperation with the IEEE Solid-State Circuits Society
المکتبة: (طهران)
موضوع: Testing -- Congresses ، Semiconductor storage devices,Congresses ، Random access memory
رده :
TK
7895
.
M4I44
1999
